環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱（ESS）中的潛在缺陷：產(chǎn)品可靠性的提出：為了使用戶滿意；降低驚人的維修費(fèi)用和產(chǎn)品成本；增加利潤(rùn)，這些都是一些難以捉摸和控制的事情。但是必須控制電子元器件性能，并集中于產(chǎn)品可靠性這一焦點(diǎn)上。

環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱(ESS)是通過(guò)向電子產(chǎn)品施加合理的環(huán)境應(yīng)力和電應(yīng)力，將其內(nèi)部的“潛在缺陷”激發(fā)成為故障，并通過(guò)檢測(cè)發(fā)現(xiàn)和排除的過(guò)程，是一種工藝手段。在制定ESS方案前，首先應(yīng)研究產(chǎn)品缺陷，即研究產(chǎn)品缺陷是開(kāi)展ESS的前提。根據(jù)缺陷特點(diǎn)，可將產(chǎn)品缺陷按以下方式分類：

1．按引入缺陷的源頭分類，可分為設(shè)計(jì)缺陷、生產(chǎn)缺陷、元器件及原材料缺陷。
2．按可檢測(cè)程度分類，可分為明顯缺陷與潛在缺陷。
3．按ESS效果分類，可分為ESS能激發(fā)和導(dǎo)致故障的缺陷、ESS不能激發(fā)和導(dǎo)致故障的缺陷。

通常說(shuō)的元器環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱比ESS內(nèi)容多，差別較大。目前國(guó)內(nèi)使用的元器件篩選方法如下：
a) 外觀檢查：用10倍放大鏡檢查外形、引線及材料有無(wú)缺陷。
b) 溫度循環(huán)：使元器件交替暴露在規(guī)定的極限高溫和極限低溫下，連續(xù)承受規(guī)定條件和規(guī)定次數(shù)的循環(huán)，由冷到熱或由熱到冷的總轉(zhuǎn)移時(shí)問(wèn)不超過(guò)1 min，保持時(shí)間不小于10 min。
c) 高溫壽命（非工作）：按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的壽命試驗(yàn)要求，使元器件在規(guī)定的環(huán)境條件下(通常是最高溫度)存儲(chǔ)規(guī)定的時(shí)間。
d) 電功率老煉：按降額條件達(dá)到最高結(jié)溫下的老煉目的，老煉功率按元器件各自規(guī)定的條件選取。
e) 密封性試驗(yàn)：有空腔的元器件，先細(xì)檢漏，后粗檢漏。
f) 電參數(shù)測(cè)試(包括耐壓或漏電流等測(cè)試)：按產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范合同規(guī)定進(jìn)行。
g) 功能測(cè)試：按產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范合同規(guī)定進(jìn)行。

環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)是指利用外加的環(huán)境應(yīng)力，使?jié)摯嬗陔娮赢a(chǎn)品研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)制程中，因不良元器件、制造工藝和其它原因等所造成的早期故障提早發(fā)生而暴露出來(lái)，給予修正和更換。